提(tí)交
产品概述：
TH2851系列阻抗分(fēn)析仪是(shì)常州同(tóng)惠电子采用(yòng)当前(qián)國(guó)際先(xiān)进的(de)自(zì)動(dòng)平衡电橋(qiáo)原理(lǐ)研制成功的(de)新(xīn)一(yī)代(dài)阻抗測试仪器，为國(guó)产阻抗測试仪器的(de)最(zuì)新(xīn)高(gāo)度(dù)。
TH2851系列阻抗分(fēn)析仪徹底颠覆了傳統國(guó)产仪器複雜繁瑣的(de)操作(zuò)界面(miàn)，基于Windows10操作(zuò)系統，實(shí)現(xiàn)了全(quán)电腦化(huà)操作(zuò)界面(miàn)，讓測试更(gèng)智能、更(gèng)簡便。
TH2851系列阻抗分(fēn)析仪也(yě)徹底超越了國(guó)外(wài)同(tóng)類(lèi)仪器120MHz的(de)頻率瓶(píng)颈；解(jiě)決了國(guó)外(wài)同(tóng)類(lèi)仪器只(zhī)能分(fēn)析、无法(fǎ)單獨測试的(de)缺陷；中(zhōng)英文(wén)操作(zuò)界面(miàn)也(yě)解(jiě)決了國(guó)外(wài)仪器僅有(yǒu)英文(wén)界面(miàn)的(de)尴尬；采用(yòng)單測和(hé)分(fēn)析两(liǎng)種(zhǒng)界面(miàn)，讓測试更(gèng)簡單。
快(kuài)达(dá)2.5ms的(de)測试速度(dù)、及(jí)高(gāo)达(dá)40MΩ的(de)阻抗測试範圍可(kě)以(yǐ)滿足元(yuán)件(jiàn)與(yǔ)材料的(de)測量(liàng)要求，特(tè)别有(yǒu)利于低(dī)損耗(D)电容器和(hé)高(gāo)品質(zhì)因(yīn)數(Q)电感(gǎn)器的(de)測量(liàng)。四(sì)端对(duì)的(de)端口(kǒu)配置方(fāng)式可(kě)有(yǒu)效消除測试線(xiàn)电磁耦合的(de)影响，将低(dī)阻抗測试能力的(de)下(xià)限比常規五(wǔ)端配置的(de)仪器向(xiàng)下(xià)擴展(zhǎn)了十(shí)倍。
型号(hào)和(hé)參數：
性(xìng)能特(tè)點(diǎn)：
• 測试頻率：10Hz-130MHz
• 基本(běn)阻抗精度(dù)：0.08%，典型值≤±0.045%
• 高(gāo)精度(dù)：采用(yòng)自(zì)動(dòng)平衡电橋(qiáo)技術(shù)，四(sì)端对(duì)測试配置
• 高(gāo)穩定(dìng)性(xìng)和(hé)一(yī)致(zhì)性(xìng)
• 高(gāo)速度(dù)：最(zuì)快(kuài)达(dá)2.5ms的(de)測试速度(dù)
• 高(gāo)分(fēn)辨：10.1英寸(cùn)电容式触摸屏，分(fēn)辨率1280*800
• 點(diǎn)測、列表(biǎo)掃描、图(tú)形掃描、等效电路(lù)、晶體(tǐ)振蕩器分(fēn)析五(wǔ)種(zhǒng)測试方(fāng)式
• 1601點(diǎn)多參數列表(biǎo)掃描功能
• 四(sì)參數測量(liàng)
• 自(zì)動(dòng)电平控制（ALC）功能
• 4通(tòng)道(dào)图(tú)形掃描功能，每通(tòng)道(dào)可(kě)顯示4条(tiáo)曲線(xiàn)，通(tòng)道(dào)和(hé)曲線(xiàn)有(yǒu)14種(zhǒng)分(fēn)屏顯示方(fāng)式
• 分(fēn)析功能：等效电路(lù)分(fēn)析、晶體(tǐ)振蕩器分(fēn)析、壓电分(fēn)析、曲線(xiàn)轨迹对(duì)比、介电常數分(fēn)析（選件(jiàn)）、磁導率分(fēn)析（選件(jiàn)）
• 图(tú)形掃描模式每条(tiáo)曲線(xiàn)單獨分(fēn)選，頻率分(fēn)段(duàn)掃描并分(fēn)選
• 高(gāo)兼容性(xìng)：支持(chí)SCPI指令集，兼容國(guó)際其(qí)他(tā)知名(míng)品牌(pái)
應(yìng)用(yòng)：
• 无源元(yuán)件(jiàn)：电容器、电感(gǎn)器、磁芯、电阻器、壓电器件(jiàn)、變(biàn)壓器、芯片(piàn)組件(jiàn)和(hé)网(wǎng)絡元(yuán)件(jiàn)等的(de)阻抗參數評估和(hé)性(xìng)能分(fēn)析。
• 半導體(tǐ)元(yuán)件(jiàn)：LED驅動(dòng)集成电路(lù)寄生(shēng)參數測试分(fēn)析；變(biàn)容二(èr)极(jí)管(guǎn)的(de)C-VDC特(tè)性(xìng)；晶體(tǐ)管(guǎn)或(huò)集成电路(lù)的(de)寄生(shēng)參數分(fēn)析
• 其(qí)它元(yuán)件(jiàn)：印制电路(lù)闆、繼电器、開(kāi)關(guān)、电缆(lǎn)、电池等阻抗評估
• 介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和(hé)其(qí)它材料的(de)介电常數和(hé)損耗角評估
• 磁性(xìng)材料：铁(tiě)氧體(tǐ)、非(fēi)晶體(tǐ)和(hé)其(qí)它磁性(xìng)材料的(de)導磁率和(hé)損耗角評估
• 半導體(tǐ)材料：半導體(tǐ)材料的(de)介电常數、導电率和(hé)C-V特(tè)性(xìng)
• 液晶單元(yuán)：介电常數、彈性(xìng)常數等C-V特(tè)性(xìng)
附件(jiàn)：
